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 Effects of series resistance and interface state on electrical properties of Al/Er2O3/Eu2O3/SiO2/n-Si/Al MOS capacitors 串联电阻和界面状态对Al/Er2O3/Eu2O3/SiO2/n-Si/Al MOS电容器电性能的影响
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期刊：Microelectronic Engineering 作者：Saleh Abubakar; Ercan Yılmaz 出版日期：2020-08-01 |
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