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 An X-ray diffraction (XRD) study of vapor deposited gold thin films on aluminum nitride (A1N) substrates 氮化铝(AlN)衬底上气相沉积金薄膜的X射线衍射(XRD)研究
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期刊：Thin Solid Films 作者：I. Dutta; Clifford B. Munns; G. Dutta 出版日期：1997-07-01 |
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