| 标题 |
 Correlating defect density with carrier mobility in large-scaled graphene films: Raman spectral signatures for the estimation of defect density 大规模石墨烯薄膜中缺陷密度与载流子迁移率的关联：用于缺陷密度估计的拉曼光谱特征
相关领域
石墨烯
材料科学
拉曼光谱
化学气相沉积
电子迁移率
载流子密度
石墨烯纳米带
光电子学
分析化学（期刊）
纳米技术
光学
兴奋剂
色谱法
物理
化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Nanotechnology 作者：Jeong-Yuan Hwang; Chun-Chiang Kuo; Li‐Chyong Chen; Kuei‐Hsien Chen 出版日期：2010-10-25 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
YifanWang
zho
剑指东方是为谁
bc
pcr163
MinQi
Luka
斯寜
我是站长才怪
李fr
竹筏过海
若雨凌风
samvega
smoke
nozero
遇上就这样吧
可千万不要躺平呀
sht
SYLH
树123
皖公网安备34019202002308
