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 Optical-Dielectric Characterization and Nondestructive Thickness Measurement of Ceramics Based on Terahertz Spectroscopy 基于太赫兹光谱的陶瓷光学介电表征和无损测厚
相关领域
材料科学
太赫兹辐射
光学
太赫兹光谱与技术
表征（材料科学）
无损检测
电介质
光谱学
陶瓷
折射率
光电子学
复合材料
医学
量子力学
物理
放射科
纳米技术
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期刊：Applied Optics 作者：Chutong Gao; Zhiyuan Zheng; Shichang Ke; Bochao Guan; Qiang He 出版日期：2025-06-02 |
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