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Scalable Multi-Site Test Architecture for Chiplet-Based Systems on ATE Platforms 相关领域
测试压缩
自动测试模式生成
自动测试设备
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计算机科学
可扩展性
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期刊:IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者:J. Y. SHIN; Hyunbeen Kim; Jin Hwan Park; Youngwoo Lee 出版日期:2025-12-22 |
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