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Measurement and Analysis of Multistate Ferroelectric Transistors in 28 nm CMOS Process |
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期刊:IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者:Sayma Nowshin Chowdhury; Alex L. Mazzoni; Xiaohang Zhang; Andreu L. Glasmann; Halid Mulaosmanovic; et al 出版日期:2026-01-01 |
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(2025-6-4)