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 Tuning the electrical performance of metal oxide thin-film transistors via dielectric interface trap passivation and graded channel modulation doping 通过介电界面陷阱保护和渐变沟道调制掺杂调整金属氧化物薄膜晶体管的电气性能
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期刊：Journal of Materials Chemistry C 作者：Zhiheng Wu; Zhiqiang Yao; Suilin Liu; Bin Yuan; Yake Zhang; et al 出版日期：2016-12-30 |
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