标题 |
![]() 通过界面和缺陷工程提高铁电Hf0.5Zr 0.5 O2薄膜的耐久性
相关领域
退火(玻璃)
铁电性
哈夫尼亚
材料科学
薄膜
复合材料
光电子学
纳米技术
电介质
陶瓷
立方氧化锆
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:Jing Zhou; Yue Guan; Miao Meng; Peizhen Hong; Shuai Ning; et al 出版日期:2024-02-26 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|