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Characterization of different-Al-content AlxGa1−xN/GaN heterostructures and high-electron-mobility transistors on sapphire 蓝宝石上不同Al含量的AlxGa 1 −xN/GaN异质结构和高电子迁移率晶体管的表征
相关领域
异质结
材料科学
跨导
高电子迁移率晶体管
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena 作者:S. Arulkumaran; T. Egawa; H. Ishikawa; T. Jimbo 出版日期:2003-03-28 |
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