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 Single event effects prediction of MOSFET device using deep learning 基于深度学习的MOSFET器件单事件效应预测
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期刊：Nanotechnology 作者：Rong Zhao; Shulong Wang; Xiaoling Duan; Xianfa Cao; Lan Ma; et al 出版日期：2022-09-16 |
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