Abnormal On-Current Degradation Under Non-Conductive Stress in Contact Field Plate Lateral Double-Diffused Metal-Oxide- Semiconductor Transistor With 0.13-μm Bipolar-CMOS-DMOS Technology

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标题	Abnormal On-Current Degradation Under Non-Conductive Stress in Contact Field Plate Lateral Double-Diffused Metal-Oxide- Semiconductor Transistor With 0.13-μm Bipolar-CMOS-DMOS Technology
网址	https://doi.org/10.1109/led.2022.3164475
DOI	10.1109/led.2022.3164475 doi
其它	期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Wei‐Chun Hung; Yu‐Fa Tu; Ting‐Chang Chang; Mao‐Chou Tai; Yung‐Fang Tan; et al 出版日期：2022-04-04
求助人	无情修杰在 2025-12-10 18:27:13 发布自湖北，悬赏 10 积分
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