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High-Resolution Visualization of Sidewall Defects in Gallium Nitride Micro Light-Emitting Diode via Multi-Physical Field Luminescence Imaging Microscopy 基于多物理场发光成像显微镜的氮化镓微型发光二极管侧壁缺陷高分辨率可视化
相关领域
材料科学
光电子学
钝化
氮化镓
蚀刻(微加工)
发光二极管
二极管
显微镜
高光谱成像
表征(材料科学)
亮度
发光
量子点
镓
荧光寿命成像显微镜
等离子体刻蚀
微等离子体
氮化物
光致发光
量子效率
砷化镓
炸薯条
反应离子刻蚀
图像分辨率
光学
近场扫描光学显微镜
宽禁带半导体
纳米技术
等离子体
量子阱
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期刊:AIP Publishing 作者:Li Cheng; Huang Kai; Jiang Zhuoying; Li Jin-chai; Zhang Rong; et al 出版日期:2025-01-01 |
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