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Development of an X-ray imaging detector to resolve 200 nm line-and-space patterns by using transparent ceramics layers bonded by solid-state diffusion 使用固态扩散键合的透明陶瓷层分辨200 nm线和空间图案的X射线成像探测器的研制
相关领域
光学
闪烁体
材料科学
透射率
探测器
X射线探测器
镜头(地质)
光电子学
折射率
物理
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期刊:Optics Letters 作者:Takashi Kameshima; Akihisa Takeuchi; Kentaro Uesugi; Togo Kudo; Yoshiki Kohmura; et al 出版日期:2019-03-08 |
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