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 Even–Odd Layer-Dependent Exchange Bias Effect in MnBi2Te4 Chern Insulator Devices MnBi2Te4 Chern绝缘体器件中的奇偶层相关交换偏压效应
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期刊：Nano Letters 作者：Bo Chen; Xiaoda Liu; Yu-Hang Li; Han Tay; Takashi Taniguchi; et al 出版日期：2024-06-27 |
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