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 Influence of temperature inhomogeneity and trap charge on current imbalance of SiC MOSFETs 温度不均匀性和陷阱电荷对SiC MOSFET电流不平衡的影响
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期刊：Solid-State Electronics 作者：Chunsheng Guo; Jiapeng Li; Yamin Zhang; Hui Zhu; Meng Zhang; et al 出版日期：2025-02-01 |
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