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  ‘Molecular Beam Epitaxy’ on Organic Semiconductor Single Crystals: Characterization of Well-Defined Molecular Interfaces by Synchrotron Radiation X-ray Diffraction Techniques 有机半导体单晶上的“分子束外延”：用同步辐射X射线衍射技术表征明确的分子界面
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薄膜晶体管
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期刊：Materials 作者：Yasuo Nakayama; Ryohei Tsuruta; Tomoyuki Koganezawa 出版日期：2022-10-13 |
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