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The optimization of photoresist profile for sub-90nm technology 相关领域
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期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:Haeng-Leem Jeon; Cheonman Shim; Jiho Hong; Jae Won Han; Keeho Kim 出版日期:2007-03-16 |
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