| 标题 |
Reliability Mechanisms of LTPS-TFT With $\hbox{HfO}_{2}$ Gate Dielectric: PBTI, NBTI, and Hot-Carrier Stress |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Ming-Wen Ma; Chih-Yang Chen; Woei-Cherng Wu; Chun-Jung Su; Kuo-Hsing Kao; et al 出版日期:2008 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)