Insight Into the Performance Degradation of p-NiO/n-Ga 2 O 3 Heterojunction Barrier Schottky Diode Under Forward Bias Stress

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标题	Insight Into the Performance Degradation of p-NiO/n-Ga 2 O 3 Heterojunction Barrier Schottky Diode Under Forward Bias Stress
网址	http://dx.doi.org/10.1109/ted.2026.3670091
DOI	10.1109/ted.2026.3670091 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Xue-Qiang Ji; Yi-Fei Wang; Ying-Xu Wang; Jun Liu; Shan Li; et al 出版日期：2026-04-01
求助人	有魅力老头在 2026-07-27 16:20:12 发布自山东，悬赏 10 积分
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