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Hydrogen-related effects in GaInP/GaAs HBTs: incorporation, removal and influence on device reliability
GaInP/GaAs HBTs中的氢相关效应:掺入、去除及其对器件可靠性的影响
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期刊:Materials Science And Engineering: B 作者:S. Cassette; S. Delage; E. Chartier; D. Floriot; M. A. Poisson; et al 出版日期:2001-03-01 |
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