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 Characterization of thin-film amorphous semiconductors using spectroscopic ellipsometry 薄膜非晶半导体的椭偏光谱表征
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期刊：Thin Solid Films 作者：G. E. Jellison; V. I. Merkulov; Alexander A. Puretzky; David B. Geohegan; Gyula Eres; et al 出版日期：2000-12-01 |
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