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Assessing the stability of p+ and n+ polysilicon passivating contacts with various capping layers on p-type wafers p型晶片上不同覆盖层的p+和n+多晶硅钝化接触稳定性的评估
相关领域
钝化
材料科学
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退火(玻璃)
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化学
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期刊:Solar Energy Materials and Solar Cells 作者:Chukwuka Madumelu; Yalun Cai; Christina Hollemann; Robby Peibst; Bram Hoex; et al 出版日期:2023-02-20 |
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