| 标题 |
A thermal activation view of low voltage impact ionization in MOSFETs |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Electron Device Letters 作者: Pin Su; K. Goto; T. Sugii; Chenming Hu 出版日期:2002-11-08 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)