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 Impact of Carbon Cap Defects on the Reliability of Automotive 1.2 kV SiC MOSFETs 相关领域
可靠性（半导体）
材料科学
汽车工业
碳纤维
汽车工程
可靠性工程
法律工程学
复合材料
压力（语言学）
汽车电子
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期刊：2026 IEEE 38th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) 作者：Jinying Yu; Jingjing Cui; Jie Deng; Baocheng Yuan 出版日期：2026-05-24 |
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