| 标题 |
Parameters required to simulate electric characteristics of SiC devices for n-type 4H–SiC n型4H-SiC模拟SiC器件电特性所需的参数
相关领域
碳化硅
材料科学
电子密度
电子迁移率
兴奋剂
杂质
电子
霍尔效应
载流子密度
宽禁带半导体
分析化学(期刊)
航程(航空)
大气温度范围
电阻率和电导率
凝聚态物理
光电子学
化学
热力学
物理
复合材料
有机化学
色谱法
量子力学
冶金
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:Sou Kagamihara; Hideharu Matsuura; Tetsuo Hatakeyama; Takatoshi Watanabe; Mitsuhiro Kushibe; et al 出版日期:2004-11-05 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)