| 标题 |
 Dark-field structured illumination microscopy for highly sensitive detection of 3D defects in optical materials 用于光学材料三维缺陷高灵敏度检测的暗场结构照明显微镜
相关领域
光学
材料科学
暗场显微术
显微镜
景深
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光学显微镜
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期刊：Optics and Lasers in Engineering 作者：Ke Zhang; Lulu Li; Qian Liu 出版日期：2022-10-29 |
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