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Analysis and prediction of sputtering yield using combined hierarchical clustering analysis and artificial neural network algorithms 相关领域
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期刊:Plasma Science and Technology 作者:Yu 煜 CHEN 陈; Jiawei 嘉伟 LUO 罗; Wen 玟 LEI 雷; Yan 岩 SHEN 沈; Shuai 帅 CAO 曹 出版日期:2024-08-18 |
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