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 Effect of Ar-plasma treatment of ITO layer on resistive memory properties of a Ti/ITO point-contact structure 相关领域
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期刊：Modern Physics Letters B 作者：Chih‐Yi Liu; Wan-We Chih; Chao-Kai Weng; Wei-Chen Tien; Chang‐Sin Ye 出版日期：2019-04-18 |
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