| 标题 |
Impact of the thickness on the optical and electronic and structural properties of sputtered Cu2S thin films 相关领域
材料科学
折射率
薄膜
透射率
带隙
摩尔吸收率
溅射沉积
分析化学(期刊)
光学
溅射
光电子学
化学
纳米技术
色谱法
物理
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:J. R. Velasquez-Ordoñez; Julio Rivera-Taco; D. G. Pacheco‐Salazar; J. A. H. Coaquira; José‐Luis Maldonado; et al 出版日期:2024-02-14 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|