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Effects of Postdeposition Annealing on the Electrical Properties of Cu2O/4H–SiC PiN Diodes 沉积后退火对Cu2O/4H-SiC PIN二极管电学性能的影响
相关领域
退火(玻璃)
材料科学
二极管
光电子学
PIN二极管
碳化硅
冶金
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期刊:physica status solidi (a) 作者:Hyung‐Jin Lee; Geon‐Hee Lee; Hyunwoo Lee; Tae‐Hee Lee; Il Ryong Kim; et al 出版日期:2024-05-19 |
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