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SRAM Write- and Performance-Assist Cells for Reducing Interconnect Resistance Effects Increased With Technology Scaling 相关领域
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期刊:IEEE Journal of Solid-State Circuits 作者:Keonhee Cho; Hee Kyoung Choi; In-Jun Jung; Jisang Oh; Tae Woo Oh; et al 出版日期:2022-02-03 |
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