| 标题 |
Effect of cap layer and post growth on-site hydride passivation on the surface and interface quality of InAsP/InP hetero and QW structures 相关领域
钝化
材料科学
氢化物
图层(电子)
接口(物质)
光电子学
质量(理念)
复合材料
冶金
金属
哲学
毛细管作用
毛细管数
认识论
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Surfaces and Interfaces 作者:Geetanjali Vashisht; Rijul Roychowdhury; Ravi Kumar; S. Porwal; A. Bose; et al 出版日期:2024-09-08 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|