A Deeper Look into the Effects of Extended Defects in SiC Epitaxial Layers on Device Performance and Reliability

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文献求助详情

标题	A Deeper Look into the Effects of Extended Defects in SiC Epitaxial Layers on Device Performance and Reliability
网址	https://www.scientific.net/MSF.1062.406
DOI	10.4028/p-sctxav doi
求助人	hutuvine 在 2026-03-12 16:06:32 发布自江苏，悬赏 30 积分
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6分钟前