H-related defect complexes in HfO2: A model for positive fixed charge defects

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标题	H-related defect complexes in HfO2: A model for positive fixed charge defects
网址	https://pubs.aip.org/aip/apl/article-pdf/84/19/3894/18588587...
DOI	10.1063/1.1738946 doi
其它	期刊：Applied Physics Letters 作者：Joongoo Kang; E.-C. Lee; K. J. Chang; Young-Gu Jin 出版日期：2004-05-04
求助人	泉er 在 2026-05-26 20:57:53 发布自上海，悬赏 10 积分
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