| 标题 |
 Electronic structure simulation of thin silicon layers: Impact of orientation, confinement, and strain 薄硅层的电子结构模拟：取向、限制和应变的影响
相关领域
硅
材料科学
绝缘体上的硅
带隙
应变硅
凝聚态物理
电子结构
电子能带结构
方向（向量空间）
光电子学
工程物理
晶体硅
物理
几何学
数学
非晶硅
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Physica E Low-dimensional Systems and Nanostructures 作者：Thomas Joseph; Florian Fuchs; Jörg Schuster 出版日期：2022-10-31 |
| 求助人 |
CodeCraft
在
2025-08-29 15:28:11 发布，悬赏 10 积分
|
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
爱静静
linkman
飲啖茶食個包
Virtual
GingerF
喜悦荧
qiuer7
aldehyde
安详的忆安
小花排草
七月流火
小天
核桃
AAA
mayhem
风清扬
lkkkkk
pluto
鲤鱼不言
zhonghebi
皖公网安备34019202002308
