| 标题 |
Adaptive, Symmetry-Informed Bayesian Metrology for Precise Quantum Technology Measurements |
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| DOI |
10.1103/rq95-zq9r
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| 其它 |
期刊:Physical Review Letters 作者:Matthew Overton; J. Rubio; Nathan Cooper; D. Baldolini; David Johnson; et al 出版日期:2024-10-14 |
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(2025-6-4)