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Critical Importance of Nonuniform Polarization and Fringe Field Effects for Scaled Ferroelectric FinFET Memory 非均匀极化和条纹场效应对缩放铁电FinFET存储器的重要性
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Girish Pahwa; Sayeef Salahuddin; Chenming Hu 出版日期:2022-07-19 |
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