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Impact of Surface Roughness and Material Properties of Inert Electrodes on the Threshold Voltages and Their Distributions of ReRAM Memory Cells 相关领域
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期刊:ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者:Amrita Chakraborty; Mohammad Al‐Mamun; M. Orłowski 出版日期:2022-10-01 |
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