| 标题 |
 Complex Diagnostics of Silicon-on-Insulator Layers after Ion Implantation and Annealing 离子注入和退火后绝缘体上硅层的复杂诊断
相关领域
退火（玻璃）
离子注入
硅
材料科学
绝缘体上的硅
离子
光电子学
纳米技术
工程物理
冶金
化学
工程类
有机化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques 作者：P. A. Yunin; М. Н. Дроздов; А. В. Новиков; V. B. Shmagin; Е. В. Демидов; et al 出版日期：2024-06-01 |
| 求助人 |
chaohuix
在
2025-08-19 10:27:52 发布，悬赏 10 积分
|
| 下载 | 暂无链接，等待应助者上传 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
粗心的秋灵
PDF的下载单位、IP信息已删除
不配.
Zoo
梁三柏
CR7
pcr163
HZQ
MMMMM
夜白
飲啖茶食個包
eric888
YSM
糟糕的万恶
虚拟的鼠标
昏睡的蟠桃
猪猪hero
镓氧锌钇铀
柚子
暮霭沉沉
打卡下班
Joy
皖公网安备34019202002308
