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Numerical Analysis of Oxygen-Related Defects in Amorphous In-W-O Nanosheet Thin-Film Transistor
非晶态In-W-O纳米片薄膜晶体管中氧相关缺陷的数值分析
相关领域
薄膜晶体管
材料科学
无定形固体
栅极电介质
费米能级
光电子学
态密度
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电介质
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期刊:Nanomaterials 作者:Wan-Ta Fan; Po‐Tsun Liu; Po-Yi Kuo; Chia-Chun Chang; I-Han Liu; et al 出版日期:2021-11-15 |
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