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A Review on Emerging High‐ k Dielectrics for Charge Trapping Memory: Fundamentals, Fabrication, Modification and Applications |
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期刊:Small 作者:Huan Niu; Mengwen Fan; Lin Lv; Houzhao Wan; Guokun Ma; et al 出版日期:2026-08-18 |
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(2025-6-4)