| 标题 |
Determination of order parameter of YMn0.5Fe0.5O3 epitaxial thin films by anomalous X‐ray scattering technique 相关领域
正交晶系
衍射
散射
外延
化学
X射线晶体学
结晶学
基质(水族馆)
X射线
薄膜
晶体结构
吸收(声学)
分析化学(期刊)
光学
材料科学
物理
纳米技术
有机化学
海洋学
图层(电子)
地质学
色谱法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of the Chinese Chemical Society 作者:Chih‐Hao Lee; Hongen Chen; Shu‐Chih Haw; Aswin kumar Anbalagan; Jin‐Ming Chen 出版日期:2023-04-11 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|