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H+ implantation induced defects distribution in 4H-SiC single crystal film fabricated by Crystal-Ion-Slicing and its effects on electrical behavior: A multiple characterization study 晶体离子切片制备的4H-SiC单晶薄膜中H+注入诱导的缺陷分布及其对电学行为的影响:多重表征研究
相关领域
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期刊:Applied Surface Science 作者:Dailei Zhu; Wenbo Luo; G.W Wang; Kuangkuang Li; Limin Wan; et al 出版日期:2024-07-06 |
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