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 Robust System Design to Overcome CMOS Reliability Challenges 克服CMOS可靠性挑战的稳健系统设计
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期刊：IEEE Journal on Emerging and Selected Topics in Circuits and Systems 作者：Subhasish Mitra; Kevin Brelsford; Young Moon Kim; Hsiao-Heng Kelin Lee; Yanjing Li 出版日期：2011-03-01 |
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