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![]() 对称渐变宽隙沟道和漏极场板设计的In₀.₁₂Al₀.₈₈n MOS-HFET的研究
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期刊:IEEE Access 作者:Jian-Hong Ke; Ching-Sung Lee; Han-Yin Liu; Jung‐Hui Tsai; Wei‐Chou Hsu 出版日期:2024-01-01 |
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WalterWhite
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2025-08-05 03:25:46 发布,悬赏 10 积分
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WalterWhite
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