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![]() 纳米级FD-SOI MOSFET中1/f噪声和随机电报噪声之间陷阱诱导迁移率波动的普遍性
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Owen Gauthier; S. Haendler; Quentin Rafhay; Christoforos Theodorou 出版日期:2023-06-05 |
求助人 |
诸葛小谷
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2025-08-30 17:15:21 发布,悬赏 10 积分
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