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Using highly accelerated life test to study insulation reliability of multi-layer ceramic capacitors sintered at different temperatures 利用高加速寿命试验研究不同温度烧结多层陶瓷电容器的绝缘可靠性
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平均故障间隔时间
可靠性(半导体)
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Z.D. Wang; Shiguang Yan; Fei Cao; Zhichao Hong; Yuelong Xiong; et al 出版日期:2023-11-15 |
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