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[高分]
Adaptive Scanning in Ptychography through Deep Reinforcement Learning 基于深度强化学习的Ptychography自适应扫描
相关领域
计算机科学
强化学习
摄影术
钢筋
人工智能
动作(物理)
材料科学
光学
物理
复合材料
衍射
量子力学
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| 其它 |
期刊:Microscopy and Microanalysis 作者:Marcel Schloz; Johannes Müller; Thomas C. Pekin; Wouter Van den Broek; Christoph T. Koch 出版日期:2021-07-30 |
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(2025-6-4)