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Defect characterization of MOCVD grown AlN/AlGaN films on sapphire substrates by TEM and TKD |
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期刊:Physica B: Condensed Matter 作者:J.H. O’Connell; M.E. Lee; J. Westraadt; J.A.A. Engelbrecht 出版日期:2017-08-04 |
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