Enhanced Reliability of Ferroelectric GaN HEMTs With Reduced Depolarization-Field Effect

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标题	Enhanced Reliability of Ferroelectric GaN HEMTs With Reduced Depolarization-Field Effect
网址	https://doi.org/10.1109/LED.2025.3599158
DOI	10.1109/LED.2025.3599158 doi
其它	期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Hyeong Jun Joo; Gyuhyung Lee; Yoojin Lim; Brendan Hanrahan; Geonwook Yoo 出版日期：2025
求助人	cyd2007cyd 在 2026-05-27 15:42:14 发布自江苏，悬赏 10 积分
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